Veröffentlichung des Lehrstuhls als „Top Downloaded“ vom R&D Management Journal ausgezeichnet

Certificate Top Downloaded

Wir freuen uns sehr, dass ein von Professor Dr. Peter M. Bican und Dr. Carsten C. Guderian zusammen mit Professor Dr. Frederik J. Riar von der Universität Bern und Dr. Sarbani Chattopadhyay von LexisNexis Intellectual Property Solutions verfasster Fachartikel vom Wiley-Verlag als „Top Downloaded Article“ ausgezeichnet wurde. Der Artikel wurde vom Wiley-Verlag bereits als „Top Cited Article 2020-2021“ ausgezeichnet.

Der Fachartikel zum Thema „Innovation Management in Crisis: Patent Analytics as a Response to the Covid-19 Pandemic erschien im Jahr 2021 in der international renommierten Fachzeitschrift R&D Management. In diesem Fachartikel werden verschiedene Optionen analysiert und diskutiert, wie Patentanalysen zur datenbasierten Bewältigung von Krisen wie der Covid-19-Pandemie verwendet werden können.

Auf den Fachartikel kann kostenlos unter dem folgenden Link zugegriffen werden: https://doi.org/10.1111/radm.12447.