Veröffentlichung des Lehrstuhls als „Top Cited 2021-2022“ vom R&D Management Journal ausgezeichnet

Zertifikat "Top Cited Article"

Wir freuen uns sehr, dass ein von Professor Dr. Peter M. Bican und Dr. Carsten C. Guderian zusammen mit Professor Dr. Frederik J. Riar von der Universität Bern und Dr. Sarbani Chattopadhyay von LexisNexis Intellectual Property Solutions verfasster Fachartikel vom Wiley-Verlag als „Top Cited 2021-2022“ ausgezeichnet wurde. Der Artikel wurde vom Wiley-Verlag bereits als „Top Cited Article 2020-2021“ und „Top Downloaded Article“ ausgezeichnet.

Der Fachartikel zum Thema „Innovation Management in Crisis: Patent Analytics as a Response to the Covid-19 Pandemic“ erschien im Jahr 2021 in der international renommierten Fachzeitschrift R&D Management. In diesem Fachartikel werden verschiedene Optionen analysiert und diskutiert, wie Patentanalysen zur datenbasierten Bewältigung von Krisen wie der Covid-19-Pandemie verwendet werden können.

Auf den Fachartikel kann kostenlos als Open Access unter dem folgenden Link zugegriffen werden: https://doi.org/10.1111/radm.12447.